Симпозиум посвящен вопросам развития и применения методов сканирующей микроскопии (электронной и зондовой) и аналитических методов исследования в физике твердого тела, материаловедении, нанотехнологии, химии, биологии, медицине.
Научные направления:
Приборы и электронная оптика.
Растровая электронная микроскопия и анализ локального состава.
Сканирующая зондовая микроскопия.
Сканирующая просвечивающая электронная микроскопия.
Наноструктуры и нанотехнологии.
Применение растровой электронной и зондовой микроскопии в физике, материаловедении, микроэлектронике, нанотехнологии, химии и геологии.
Применение растровой электронной, зондовой и конфокальной лазерной сканирующей микроскопии в биологии, медицине и экологии.
Крайний срок представления электронных вариантов тезисов докладов, заявок на участие в конференции: 15 декабря 2010 г.
В конференции примут участие студенты и аспиранты базовых кафедр МФТИ, МИСИС, МГТУ им. Баумана.
