XVII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твёрдых тел РЭМ-2011

Name: XVII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твёрдых тел РЭМ-2011
Start: 2011-05-31T00:00
End: 2010-06-02T00:00
Location: Московский государственный университет имени М.В.Ломоносова

Город

Москва, Россия

Место

МГУ

Регистрация

Регистрация закрыта

Регистрация до 15 декабря 00:00 Регистрация до 15 декабря 00:00

Симпозиум посвящен вопросам развития и применения методов сканирующей микроскопии (электронной и зондовой) и аналитических методов исследования в физике твердого тела, материаловедении, нанотехнологии, химии, биологии, медицине.

Научные направления:

Приборы и электронная оптика.

Растровая электронная микроскопия и анализ локального состава.

Сканирующая зондовая микроскопия.

Сканирующая просвечивающая электронная микроскопия.

Наноструктуры и нанотехнологии.

Применение растровой электронной и зондовой микроскопии в физике, материаловедении, микроэлектронике, нанотехнологии, химии и геологии.

Применение растровой электронной, зондовой и конфокальной лазерной сканирующей микроскопии в биологии, медицине и экологии.

Крайний срок представления электронных вариантов тезисов докладов, заявок на участие в конференции: 15 декабря 2010 г.

В конференции примут участие студенты и аспиранты базовых кафедр МФТИ, МИСИС, МГТУ им. Баумана.

Организаторы

Московский государственный университет имени М.В.Ломоносова

Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН (ИПТМ РАН),
Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН
при участии ООО «Форум-СМ».

Контактная информация

119333, Москва, Ленинский пр., 59, ИК РАН имени А.В. Шубникова, Оргкомитет РКЭМ-2011;
тел.: (495) 135-02-98;
факс: (495) 135-10-11;
E-mail: alla@ns.crys.ras.ru.

142432, Московская обл., Черноголовка, ул. Институтская, д. 6, ИПТМ РАН, РКЭМ-2011;
E-mail: giza@iptm.ru.